Instituto de Investigación en Metalurgia y Materiales

Universidad Michoacana de San Nicolas de Hidalgo

Microscopia Electrónica

Equipos y sus características técnicas

Microscopio  Electrónico de Transmisión  Analítico

Modelo  Tecnai  supertwin con emisión de campo. Módulo computarizado para integración de funciones analíticas y de imágenes.

Configuración Básica: Modos operativos de campo claro, campo obscuro y difracción electrónica

Periféricos y configuración analítica:

  1. Modo operativo STEM, barrido transmisión.
  2. Modo operativo: EDX , espectrómetro de análisis químico elemental.
  3. Modo operativo EELS, espectrómetro de análisis químico de elementos ligeros y pesados.
  4. Módulo de filtrado de energía, EFTEM

 

 

 

Equipos Accesorios al Microscopio Electrónico de Transmisión

Espectroscopia EELS, para  análisis químico de elementos ligeros y pesados.

Módulo de filtrado de energía, EFTEM 

Módulo de Barrido Transmisión  (STEM)

Espectroscopia EDS 

Análisis Químico de elementos pesados

Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo

  • Modelo:  Jeol JSM  7600F
  • Microscopio de alta resolución (1nm), estado del arte, equipado con haz atenuante (gentle beam) especial para muestras no conductoras.
  • Espectroscopia EDS Bruker

Microscopio Electrónico de Barrido Convencional

Modelo JSM-6400
Equipado con:
  • Electrones secundarios , resolución 2.5 nm
  • Electrones retrodispersados , resolución 7.5 nm.
  • Espectroscopia EDS (Bruker).
  • Espectroscopia  WDS

Microscopio de Fuerza Atómica

Modelo JEOL  JSPM-5200

Resolución: 10 nm

Es un instrumento mecano-óptico capaz de detectar fuerzas del orden de los nanonewtons, útil en la visualización  topográfica de muestras con dimensiones nanométricas.

Modos operativos: Taping, Contacto y Tunelamiento

Laboratorio de Preparación de Muestras

Limpiador de muestras por plasma

Ultra-Microtomo. Preparación de muestras por corte para microscopia electrónica de transmisión.

Unidad de adelgazamiento de muestras metálicas por electropulido

 

Metalizadora “Sputter-Coater” para recubrimientos de muestras no-conductoras

Metalizadora para recubrimientos ultradelgados para muestras en atmósferas controladas  y reactivas

MICROGRAFIA ELECTRÓNICA DE ALTA RESOLUCIÓN MOSTRANDO LA INTERACCIÓN Y  LA ORIENTACIÓN CRISTALOGRÁFICA DE LAS RETICULAS  DE LOS DIVERSOS PLANOS CRISTALINOS DE LA ANATASA  TITANIA.

(Tomado de tesis doctoral de Oliver Muñíz)

MICROGRAFIA  TEM EN CAMPO OBSCURO MOSTRANDO LA PERFECTA DISPERSIÓN DE NANOCRISTALES DE ANATASA TITANIA CON DIMENSIONES DE 6 nm

(Tomado de tesis doctoral de Oliver Muñíz)