Microscopia Electrónica

Modelo  Tecnai  supertwin con emisión de campo. Módulo computarizado para integración de funciones analíticas y de imágenes.

Configuración Básica: Modos operativos de campo claro, campo obscuro y difracción electrónica

Periféricos y configuración analítica:

1. Modo operativo STEM, barrido transmisión.

2. Modo operativo: EDX , espectrómetro de análisis químico elemental.

3. Modo operativo EELS, espectrómetro de análisis químico de elementos ligeros y pesados.

4. Módulo de filtrado de energía, EFTEM

Equipos Accesorios al Microscopio Electrónico de Transmisión

Espectroscopia EELS, para  análisis químico de elementos ligeros y pesados.

Módulo de filtrado de energía, EFTEM 

Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo

• Modelo:  Jeol JSM  7600F

• Microscopio de alta resolución (1nm), estado del arte, equipado con haz atenuante (gentle beam) especial para muestras no conductoras.

• Espectroscopia EDS Bruker

Microscopio Electrónico de Barrido Convencional

Modelo JSM-6400

Equipado con:

• Electrones secundarios , resolución 2.5 nm

• Electrones retrodispersados , resolución 7.5 nm.

• Espectroscopia EDS (Bruker).

• Espectroscopia  WDS

Microscopio de Fuerza Atómica

Modelo JEOL  JSPM-5200

Resolución: 10 nm

Es un instrumento mecano-óptico capaz de detectar fuerzas del orden de los nanonewtons, útil en la visualización  topográfica de muestras con dimensiones nanométricas.

Modos operativos: Taping, Contacto y Tunelamiento

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MICROGRAFIA ELECTRÓNICA DE ALTA RESOLUCIÓN MOSTRANDO LA INTERACCIÓN Y  LA ORIENTACIÓN CRISTALOGRÁFICA DE LAS RETICULAS  DE LOS DIVERSOS PLANOS CRISTALINOS DE LA ANATASA  TITANIA.

(Tomado de tesis doctoral de Oliver Muñíz